EPA-Anforderungen nach DIN EN 61340-5-1
ESD-Kontrollelement | Produktqualifizierunga | Verifizierung der Einhaltungb | ||
Prüfverfahren | Grenzwertec | Basierend auf Prüfverfahren | Grenzwertec | |
Arbeitsflächen, Lager- regale und Transport- wagen | IEC 61340-2-3 | Rgp < 1 x 109 Ω Rp-p < 1 x 109 Ω | IEC 61340-2-3 | Rg < 1 x 109 Ω |
Anschlusspunkt des Handgelenkerdungsbands | - | - | - | Rg < 5 x 106 Ω |
Bodenbelag | IEC 61340-4-1d,e | Rgp < 1 x 109 Ω | IEC 61340-4-1 | Rg < 5 x 109 Ω |
Ionisierung | IEC 61340-4-7 | Abbau (1000 V auf 100 V und -1000 V auf -100 V) < 20 s Offsetspannung < +/- 35 V | IEC 61340-4-7 | Abbau (1000 V auf 100 V und -1000 V auf -100 V) < 20 s Offsetspannung < +/- 35 V |
Sitzgelegenheiten | IEC 61340-2-3 (Messung des Widerstandes zum erdungsfreien Punkt) | Rgp < 1 x 109 Ω | IEC 61340-4-9 | Rg < 1 x 1011 Ω |
EPA-Bekleidung | IEC 61340-4-9 | Rp-p < 1 x 1011 Ω | IEC 61340-4-9 | Rp-p < 1 x 1011 Ω |
Erdungsfähige EPA-Bekleidung | IEC 61340-4-9 | Rgp < 1 x 109 Ω | IEC 61340-4-9 | Rgp < 1 x 109 Ω |
Legende zur Tabelle
a | Für die Produktqualifizierung sollten die Umgebungsbedingungen für die Prüfung bei (12 ± 3) % relative Luftfeuchte und (23 ± 2) °C liegen. Wenn nicht in den verwiesenen IEC-Normen festgelegt, sollte die Mindestdauer zur Konditionierung auf Umgebungstemperatur für die Produktqualifizierung 48 h betragen. |
b | Die Prüfverfahren in der Spalte für die Verifizierung der Einhaltung beziehen sich nur auf das grundlegende Prüfverfahren. Es wird nicht erwartet, dass die Prüfverfahren vollständig befolgt werden. |
c | In dieser Tabelle verwendete Symbole: Rp-p bezieht sich auf den Punkt-zu-Punkt-Widerstand, Rg bezieht sich auf den Widerstand zu Masse und Rgp bezieht sich auf den Widerstand zum erdungsfähigen Punkt. |
d | Die maximal zulässige Prüfspannung für die Messung von ESD-Bodenbelägen, die für ein mit dieser Norm übereinstimmendes ESD-Programm verwendet werden sollte, beträgt 100 V. |
e | Wenn ein Bodenbelag verwendet wird, um das Personal zu erden, das ESDS handhabt, wird auf die Systemanforderungen nach Tabelle 2 verwiesen. |
f | In Situationen, bei denen eine Schädigung durch das Charged Device Model (CDM) in Betracht gezogen werden muss, wird ein unterer Grenzwert des Punkt-zu-Punkt-Widerstandes Rp-p von 1 x 104 Ω empfohlen. |
g | Arbeitsflächen sind festgelegt als jede Oberfläche, auf der ein ESD-empfindliches Element abgelegt wird. |
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